Fallstudien

Eingesetzte Technologien:

NI LabVIEW, NI PXI mit FlexRIO, LabVIEW FPGA

Art der Anwendung:

CMOS-Detektor-Array-Validierungstester

Herausforderung:

Die Kundenanforderung war die Entwicklung von Software für Evaluierungs- und Validierungsstationen für eine neue Generation von CMOS-Detektoren. Es wurden eine Software-Architektur und Kommunikationsbibliotheken einschließlich einer Hardware-Abstraktionsschicht (HAL) zur Kommunikation mit 4 verschiedenen ADCs von Texas Instruments und Analog Devices entwickelt. Die Lösung ermöglichte einen Durchsatz von 300 MSPS für 16 Bit im kontinuierlichen Modus. Es wurden eine Softwareschicht auf dem FPGA-Chip und eine Windows-basierte übergreifende Anwendung entwickelt.